Scatterometar je precizan mjerni uređaj koji prenosi mikrovalnu energiju i očitava refleksije svjetlosti raspršene unatrag s ciljne površine kako bi se dobili podaci o dimenzijama. Svjetlo “povratno raspršeno” može se čitati kao grafički slojevi ili slojevi u boji na slici ciljne površine, što omogućuje vrlo točna promatranja i mjerenja. Ova tehnologija se koristi u laboratoriju, na terenu i u satelitima za brojne znanstvene, industrijske i vojne primjene. Neke namjene uključuju mjerenje visine i protoka oceanskih valova za određivanje smjera i brzine vjetra za analizu i praćenje oceanskih struja; dodatno, scatterometrija može mjeriti topografiju, globalnu klimu i vremenske događaje, te konstrukciju preciznih mikro krugova i nanotehnologije.
Mjerenja skaterometra izvode se u nepovoljnim uvjetima, zamjenjujući neprecizne tehnologije koje mogu biti osujećene nepravilnostima od naoblake do nedostataka optičke opreme. Korištenje mikrovalnih impulsa daje točnu povratnu informaciju o signalu i šumu, što osigurava jasno, pouzdano i ponovljivo prikupljanje podataka. Podaci koji se mogu dobiti ovom tehnologijom generiraju nova područja istraživanja za znanstvenike u mnogim područjima, uključujući pomorsku industriju, gdje scatterometrija pruža uvid u vremenske obrasce, ribarstvo, sigurnost u moru i globalnu klimu.
Koristeći optičke detektore i lasere različitih valnih duljina, scaterometri mogu odrediti optičke karakteristike površina i temeljnih supstrata. Zemaljska tehnologija može koristiti parabolične reflektore, radiofrekventne (RF) podsustave, elektroniku srednje frekvencije (IF) i jedinice za prikupljanje podataka. Takvi sustavi mogu pratiti podatke o povratnom raspršenju s terena kao što su šume, tlo i vegetacija.
U proizvodnji, raspršivač se koristi u konstrukciji poluvodiča koji ponekad zahtijevaju mjerenje na atomskoj razini. Poluvodiči posjeduju mnogo slojeva kojima je potrebno precizno poravnanje do nanometarske ljestvice. Mjeriteljstvo, ili proučavanje i razvoj mjernih sustava, prihvatilo je scatterometriju, koja nadmašuje čak i tehnologiju preklapanja slika koja se provodi snažnim mikroskopima. Umjesto preklapanja slika, inženjeri raspršuju različite valne duljine svjetlosti po poluvodičkim pločicama i mjere njihovu dvosmjernu refleksiju pomoću softvera i algoritama. To omogućuje točna mjerenja sitnih neusklađenosti bez ovisnosti o nepravilnoj optici mikroskopa ili radu.
Tehnologija raspršivača omogućuje brzu, nedestruktivnu analizu materijala ili površina pažljivom analizom difrakcijske svjetlosti u usporedbi s promjenama oblika linije periodične površine raspršenja. Ova tehnologija je smještena u brojne satelite koji prate ujednačene radarske presjeke, ili “otseke”, površine zemaljske kugle. Zajedno s tehnologijom kartiranja, komunikacijskim sustavima i drugim meteorološkim ili službama za traženje i spašavanje, to omogućuje da se sve, od vlage u tlu do vulkanskih događaja, jasno prikaže u preciznim dimenzionalnim promjenama.
Dvosmjerna funkcija distribucije refleksije (BRDF) opisuje materijalna svojstva refleksije svjetlosti od stvarnih površina koja se koristi u optici, termodinamici i računalnim znanostima. Inovacije kao što je kupolasti raspršivač dopuštaju mjerenje višestrukih difrakcija pod više kutova upada, uključujući svjetlost raspršenu iz zenitnog i azimutnog kuta. To omogućuje veću osjetljivost u čitanju strukture raspršenja, što omogućuje prikupljanje većih količina podataka u kraćem vremenu.